本低压熔断器触头性能测试台*国家标准IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低压熔断器第1部分:基本要求) 标准中第8.10章节“触头不变坏验证"的试验要求,用于模拟熔断器在严酷使用条件下,验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
一、设备概述:
本低压熔断器触头性能测试台*国家标准IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低压熔断器第1部分:基本要求) 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求,用于模拟熔断器在严酷使用条件下,验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。
二、主要技术参数:
1. 设备输出电压:0~690V;
2. 设备输出电流:0~5000A;
3. 通电时间:1~9999s;
4. 断电时间:1~9999s;
5. 试验样品:3组;
6. 试验循环次数:1-800次可设置;